随着科技(jì)水(shuǐ)平的高(gāo)速發展，锂電(diàn)池的使用範圍及作(zuò)用早已不言而喻，但(dàn)是在我們的日常生(shēng)活中锂電(diàn)池事故問題總是層出不窮，時(shí)時(shí)困擾着我們，鑒于此，特别整理(lǐ)了锂離子常見問題原因分析及解決措施，希望給大(dà)家(jiā)提供方便。
一、電(diàn)壓不一緻，個(gè)别偏低(dī)
1．自放電(diàn)大(dà)造成電(diàn)壓低(dī)
電(diàn)芯自放電(diàn)大(dà)，使其電(diàn)壓降低(dī)比其它快，電(diàn)壓低(dī)可(kě)以通(tōng)過存貯後檢電(diàn)壓來(lái)消除。
2．荷電(diàn)不均造成電(diàn)壓低(dī)
二、內(nèi)阻偏大(dà)
1．檢測設備差别造成
如果檢測精度不夠或者不能消除接觸電(diàn)組，将造成顯示內(nèi)阻偏大(dà)，應采用交流電(diàn)橋法原理(lǐ)測試內(nèi)阻儀器(qì)檢測。
2．存放時(shí)間(jiān)過長
锂電(diàn)池存放過長，造成容量損失過大(dà)，內(nèi)部鈍化，內(nèi)阻變大(dà)，可(kě)以通(tōng)過充放活化來(lái)解決。
3．異常受熱造成內(nèi)阻大(dà)
電(diàn)芯在加工（點焊、超聲波等）使電(diàn)池異常受熱，使隔膜産生(shēng)熱閉合現象，內(nèi)阻嚴重增大(dà)。
三、锂電(diàn)池膨脹
1．锂電(diàn)池充電(diàn)時(shí)膨脹
锂電(diàn)池在充電(diàn)時(shí)，锂電(diàn)池會(huì)自然産生(shēng)膨脹，但(dàn)一般不超過0.1mm，但(dàn)過充電(diàn)就會(huì)造成電(diàn)解液分解，內(nèi)壓增大(dà)，锂電(diàn)池膨脹。
2．加工時(shí)膨脹
一般是出現加工異常（如短(duǎn)路、過熱等）造成內(nèi)部受熱過大(dà)電(diàn)解液分解，锂電(diàn)池膨脹。
3．循環時(shí)膨脹
電(diàn)池在循環時(shí)，厚度會(huì)随着循環次數(shù)增加而增加，但(dàn)超過50周次以後基本不在增加，一般正常增加量在0.3~0.6 mm，鋁殼較為(wèi)嚴重，此種現象屬于正常電(diàn)池反應造成。但(dàn)如果增加殼體(tǐ)厚度或減少(shǎo)內(nèi)部物料可(kě)以适當減輕膨脹現象。
四、點焊後電(diàn)池有(yǒu)掉電(diàn)現象
鋁殼電(diàn)芯在點焊後電(diàn)壓低(dī)于3.7V，一般是因為(wèi)點焊電(diàn)流過大(dà)緻使電(diàn)芯內(nèi)部隔膜擊穿而短(duǎn)路，造成電(diàn)壓下降過快。
一般是點焊位置不正确所緻，正确點焊位置應該在底部或有(yǒu)标記“A”或“—”側面點焊，無标識側面和(hé)大(dà)面是不能點焊的。另外有(yǒu)些(xiē)是點焊鎳帶可(kě)焊性太差，因此必須使用很(hěn)大(dà)電(diàn)流點焊，緻使內(nèi)部耐高(gāo)溫膠帶也不能起作(zuò)用，造成電(diàn)芯內(nèi)部短(duǎn)路。
點焊後電(diàn)池掉電(diàn)也有(yǒu)部分是由于電(diàn)池本身自放電(diàn)較大(dà)所緻。
五、電(diàn)池爆炸
産生(shēng)電(diàn)池爆炸一般有(yǒu)以下幾種情況：
1．過充爆炸
保護線路失控或檢測櫃失控使充電(diàn)電(diàn)壓大(dà)于5V，造成電(diàn)解液分解，電(diàn)池內(nèi)部發生(shēng)劇(jù)烈反應，電(diàn)池內(nèi)壓迅速上(shàng)升，電(diàn)池爆炸。
2．過流爆炸
保護線路失控或檢測櫃失控使充電(diàn)電(diàn)流過大(dà)造成锂離子來(lái)不及嵌入，而在極片表面形成锂金屬，穿透隔膜，正負極直接短(duǎn)路造成爆炸（很(hěn)少(shǎo)發生(shēng)）。
3．超聲波焊塑料外殼時(shí)爆炸
超聲波焊塑料外殼時(shí)，由于設備原因使其超聲波能量轉移至電(diàn)池芯上(shàng)，超聲波能量很(hěn)大(dà)使電(diàn)池內(nèi)部隔膜熔化，正負極直接短(duǎn)路，産生(shēng)爆炸。
4．點焊時(shí)爆炸
點焊時(shí)電(diàn)流過大(dà)造成內(nèi)部嚴重短(duǎn)路産生(shēng)爆炸，另外，點焊時(shí)正極連接片直接與負極相聯，使正負極直接短(duǎn)路後爆炸。
5．過放爆炸
電(diàn)池過放電(diàn)或過流放電(diàn)（3C以上(shàng)）容易使負極銅箔溶解沉積到隔膜上(shàng)使正負極直接短(duǎn)路産生(shēng)爆炸（很(hěn)少(shǎo)發生(shēng)）。
6．振動跌落時(shí)爆炸
電(diàn)芯在劇(jù)烈振動或跌落時(shí)造成的電(diàn)芯內(nèi)部極片錯位，直接嚴重短(duǎn)路而爆炸（很(hěn)少(shǎo)發生(shēng)）。
六、電(diàn)池3.6V平台低(dī)
1．檢測櫃采樣不準或檢測櫃不穩定造成測試平台低(dī)。
2．環境溫度過低(dī)造成平台低(dī)（放電(diàn)平台受環境溫度影(yǐng)響很(hěn)大(dà)）
七、加工不當造成
（1）用力移動點焊正極連接片造成電(diàn)芯正極接觸不良，使電(diàn)芯內(nèi)阻大(dà)。
（2）點焊連接片沒有(yǒu)焊牢，接觸電(diàn)阻大(dà)，使電(diàn)池內(nèi)阻大(dà)。
